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J-GLOBAL ID:200903079580009302

表面構造を画像化するセンサ

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 合田 潔 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1994034155
Publication number (International publication number):1994249863
Application date: Feb. 07, 1994
Publication date: Sep. 09, 1994
Summary:
【要約】【目的】 プローブに及ぼされる力を、x,y,zの方向にほぼ無関係に測定できる、力顕微鏡で用いるセンサを提供する。【構成】 原子間力にもとづく顕微鏡の作製に用い、そして最大3つの成分の力を表すセンサ(100)を提供する。このセンサ(100)は、異なるモード(横およびねじれ)の振動を個別に誘起でき、各モードがそれぞれ1つの力の方向に対応するように設計されている。
Claim (excerpt):
力の測定によって表面構造を画像化するセンサであって、測定用探針から成る測定用プローブ(12)と、前記測定用プローブを取り付けるアーム(11)とを備え、前記測定用プローブは、画像化すべき表面の近傍で振動し、前記表面が前記振動に与える影響を測定するセンサにおいて、前記センサは少なくとも2つの異なる振動モードを有し、前記プローブ(12)の前記探針は、前記少なくとも2つの異なる振動モードで、異なる方向に振動することを特徴とするセンサ。
IPC (2):
G01N 37/00 ,  G01B 21/30
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (1)
  • 特開平4-116401

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