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J-GLOBAL ID：200903079696395900

反射測定装置

Inventor： 照井 武和 ,  戸田 益資 ,  安藤 浩
Applicant, Patent owner： 日本電装株式会社
Agent (1)： 服部 雅紀
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994075010
Publication number (International publication number)：1995280939
Application date： Apr. 13, 1994
Publication date： Oct. 27, 1995
Summary：

【要約】【目的】 被測定物体との距離を正しく測定するとともに体格が小さいことに加え、測定可能距離が長く、かつ至近距離でも人体に対する被ばく基準を守る反射測定装置を提供する。【構成】 反射鏡33の基材の一方の片面にはアルミ密着ミラーが形成され、他方の片面にはアルミ密着ミラーよりも反射率の低い誘電体多層膜ミラーが形成されている。被測定物体との距離が一定値を越えるときはアルミ密着ミラーで光線を反射し、被測定物体との距離が一定値以下のときは誘電体多層膜ミラーで反射する。半導体レーザダイオード21から出射した光線の中心は、アルミ密着ミラーの面上に位置する回転台32の回転軸の仮想延長線上で常に反射してコリメータレンズ40を透過する。コリメータレンズ40は中心部よりもが外周部のほうが焦点距離の長い多重焦点レンズであるので、コリメータレンズ40を透過した光線の光量密度は均一になる。

Claim (excerpt)：

光線を反射する第1の反射面を有する反射部材と、前記反射部材の前記第1の反射面を回動可能とする駆動手段と、前記反射部材の回動の軸線上において出射光線の中心が反射するように設けられる光源と、前記第1の反射面で反射された光線をほぼ平行光線にする出射レンズと、前記出射レンズを透過した光線が被測定物体に反射し、この反射した光線を受光する受光部と、前記受光部での受光時間と前記光源から出射された光線の出射時間との差から前記被測定物体との距離を算出する演算手段と、を備えることを特徴とする反射測定装置。

IPC (3)：

G01S 17/10 ,  G01S 7/48 ,  H01S 3/00

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 特開昭59-171878
  
• 特開昭54-109457