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J-GLOBAL ID：200903079770317585

絶縁欠陥検出方法及び絶縁欠陥検出装置

Inventor： 蒲生 正浩 ,  川瀬 義信
Applicant, Patent owner： ティーディーケイ株式会社
Agent (1)： 阿部 美次郎
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994077030
Publication number (International publication number)：1995280872
Application date： Apr. 15, 1994
Publication date： Oct. 27, 1995
Summary：

【要約】【目的】 ノイズの混入を防止することにより、部分放電信号を高感度に捉え、絶縁欠陥を確実に検出し得る絶縁欠陥検出装置及び検出方法を提供する。【構成】 充電回路1は、高電圧部品5に電力を供給し、高電圧部品5の容量性成分Coを充電し、その後電力供給を停止する。放電回路2は、容量性成分Coに蓄積された電荷の放電経路を構成するように、高電圧部品5に接続される。検出回路3は、容量性成分Coに蓄積された電荷の放電中に発生する部分放電を検出して高電圧部品5の絶縁欠陥の有無を検出する。

Claim (excerpt)：

充電過程と、放電過程とを含み、容量性成分を含む高電圧部品の絶縁欠陥を検出する検出方法であって、前記充電過程は、前記高電圧部品の容量性成分を充電した後、充電動作を停止する過程であり、前記放電過程は、前記充電過程を終了した後に前記容量性成分に蓄積された電荷を放電させ、その放電中に発生する部分放電を検出することにより絶縁欠陥を放出する過程である絶縁欠陥検出方法。