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J-GLOBAL ID：200903079796528819
外観検査方法
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
石田 長七 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994145172
Publication number (International publication number)：1996015172
Application date： Jun. 27, 1994
Publication date： Jan. 19, 1996
Summary：
【要約】【目的】被検査物に応じて2値化のためのしきい値を自動的かつ適切に設定し、検査対象にならない領域を十分に除外する。【構成】被検査物を含む空間領域を撮像手段により撮像して得た濃淡画像内に被検査物の少なくとも一部領域を含む検査候補領域を設定する(S1)。次に、検査候補領域に含まれる画素の平均濃度に対して高濃度側と低濃度側との少なくとも一方に規定のオフセット値だけ偏移させた濃度しきい値WS,BSを設定し(S2)、濃度しきい値WS,BSを用いて検査候補領域内の画素を2値化する(S3)。この2値化により検査候補領域内から抽出された除外候補画素の連結成分ごとにラベルを与える(S4)。被検査物の既知のラベルと上記ラベルとを比較して除外領域を決定し(S5)、検査候補領域のうち除外領域を除いた領域を検査対象領域とする(S6)。
Claim (excerpt)：
被検査物を含む空間領域を撮像手段により撮像して得た濃淡画像内に被検査物の少なくとも一部領域を含む検査候補領域を設定し、検査候補領域内についての被検査物の外観を検査する方法において、検査候補領域に含まれる画素の平均濃度に対して高濃度側と低濃度側との少なくとも一方に規定のオフセット値だけ偏移させた濃度しきい値を設定するとともに、濃度しきい値を用いて検査候補領域内の画素を2値化することによって検査候補領域内から除外候補画素を抽出した後、除外候補画素のみを連結した領域の占める部分である連結成分を既知情報と比較して連結成分ごとに検査対象外になる除外領域か否かを決定し、次に検査候補領域のうち除外領域を除いた領域を検査対象領域とし、検査対象領域内についてのみ被検査物の外観を検査することを特徴とする外観検査方法。
IPC (3)：
G01N 21/88
, G06T 7/00
, G06T 5/00
G06F 15/62 400
, G06F 15/68 350
