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J-GLOBAL ID：200903079834401461
液晶分子のチルト角測定方法
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
鈴江 武彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991172612
Publication number (International publication number)：1993018860
Application date： Jul. 12, 1991
Publication date： Jan. 26, 1993
Summary：
【要約】【目的】液晶分子をツイスト配列させた液晶セルの液晶分子のチルト角を測定する。【構成】レーザ11と光検出器12との間に偏光子13と光弾性変調器14と検光子15とを配置した光学系を用い、その光弾性変調器14と検光子15との間に液晶セル20を配置して、液晶セル20を光学系の光軸Oに沿う線を中心として回転させながら、液晶セル20を透過した光の強度を光検出器15で検出し、この検出光の直流成分および周波数成分に基づいて液晶セル20の液晶の見掛けの複屈折性を算出し、この見掛けの複屈折性と、既知の値である、液晶層厚と液晶分子ツイスト角と液晶の異常光屈折率および常光屈折率とから、液晶セル20の基板21,22面に対する液晶分子24のチルト角を算出する。
Claim (excerpt)：
液晶分子を一対の基板間においてツイスト配列させた液晶セルの前記基板面に対する液晶分子のチルト角を測定する方法において、レーザとこのレーザからの光を検出する光検出器との間に偏光子と光弾性変調器と検光子とをそれぞれ前記レーザからの光の光軸に対して垂直に配置した光学系を用い、この光学系の光弾性変調器と検光子との間に、前記液晶セルをその基板面を前記光軸に対して垂直にして配置して、この液晶セル、あるいは前記光学系の偏光子と光弾性変調器と検光子とを、前記光軸に沿う線を中心として回転させながら、前記レーザからの光を前記偏光子と光弾性変調器とを介して前記液晶セルに入射させるとともにこの液晶セルを透過した光の強度を前記検光子を介して前記光検出器で検出し、この光検出器で検出した光の直流成分および周波数成分に基づいて前記液晶セルの液晶の見掛けの複屈折性を算出し、前記見掛けの複屈折性と、既知の値である、液晶層厚と液晶分子ツイスト角と液晶の異常光屈折率および常光屈折率とから、前記液晶セルの基板面に対する液晶分子のチルト角を算出することを特徴とする液晶分子のチルト角測定方法。
IPC (2)：
G01M 11/00
, G02F 1/13 101
