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J-GLOBAL ID：200903079989820673

画像における物理量を評価する評価装置および方法

Inventor： 棚橋 修一
Applicant, Patent owner： 富士通株式会社
Agent (1)： 大菅 義之 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998341324
Publication number (International publication number)：2000162326
Application date： Dec. 01, 1998
Publication date： Jun. 16, 2000
Summary：

【要約】【課題】 衛星等から得られた画像データから物理量を推定する際に、推定される物理量の精度を評価することが課題である。【解決手段】 2つの衛星画像データ21、23からそれぞれ物理量画像22、24を生成し、それらの差分画像25から各画素の評価値26を算出する。また、物理量画像24とそのエリアのカラーマップ27からRGBの色情報28を生成し、それをHSI空間に変換して、HSI情報29を生成する。次に、評価値Rを用いてHSI情報29を変更し、HSI情報30を生成する。そして、HSI情報30を逆変換して色情報31を生成し、それを画面に表示する。

Claim (excerpt)：

画像データから物理量を推定する推定手段と、2つの画像データからそれぞれ推定された2つの物理量の差分値を生成する生成手段と、前記差分値に基づいて前記推定手段による推定精度を評価する評価手段とを備えることを特徴とする評価装置。

IPC (2)：

G01W 1/08 ,  G06T 1/00

FI (2)：

G01W 1/08 P ,  G06F 15/62 385

F-Term (16)：

5B057AA14 ,  5B057BA02 ,  5B057CA01 ,  5B057CA02 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CB01 ,  5B057CB02 ,  5B057CB08 ,  5B057CB12 ,  5B057CB16 ,  5B057CC01 ,  5B057CE11 ,  5B057CE17 ,  5B057CE18