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J-GLOBAL ID：200903080029134358

偏芯測定装置、レンズ取付方法およびレンズ偏芯検査方法

Inventor： 森住 義明
Applicant, Patent owner： 株式会社ミツトヨ
Agent (3)： 木下 實三 ,  中山 寛二 ,  石崎 剛
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003206220
Publication number (International publication number)：2005055202
Application date： Aug. 06, 2003
Publication date： Mar. 03, 2005
Summary：

【課題】被検レンズの表裏両面について偏芯測定することができる偏芯測定装置を提供する。【解決手段】被検レンズの一面に向けて光を照射するとともに被検レンズの近軸焦点に結像させる第1照明光学系11Aおよび被検レンズの一面からの反射光を観測して被検レンズの一面の偏芯を測定する第1観測手段16Aを有する第1偏芯測定ユニット1Aと、被検レンズ6の他面に向けて光を照射するとともに被検レンズ6の近軸焦点に結像させる第2照明光学系11Bおよび被検レンズ6の他面からの反射光を観測して被検レンズ6の他面の偏芯を測定する第2観測手段16Bを有する第2偏芯測定ユニット1Bとを備える。【選択図】 図1

Claim (excerpt)：

被検レンズの一面に向けて光を照射するとともに前記被検レンズの近軸焦点に結像させる第1照明光学系および前記被検レンズの一面からの反射光を観測して前記被検レンズの一面の偏芯を測定する第1観測手段を有する第1偏芯測定ユニットと、 前記被検レンズの他面に向けて光を照射するとともに前記被検レンズの近軸焦点に結像させる第2照明光学系および前記被検レンズの他面からの反射光を観測して前記被検レンズの他面の偏芯を測定する第2観測手段を有する第2偏芯測定ユニットと、を備えることを特徴とする偏芯測定装置。

IPC (3)：

G01M11/00 ,  G02B7/00 ,  G02B7/02

FI (3)：

G01M11/00 L ,  G02B7/00 E ,  G02B7/02 C

F-Term (2)：

2G086FF04 ,  2H044AC01