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J-GLOBAL ID：200903080036565895

高さ測定装置及び高さ測定方法

Inventor： 志村 菊雄
Applicant, Patent owner： 株式会社ソキア
Agent (1)： 北村 欣一 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996109094
Publication number (International publication number)：1997292218
Application date： Apr. 30, 1996
Publication date： Nov. 11, 1997
Summary：

【要約】【課題】従来のシステムでは、反射プリズム等の光学部品を必須とするため、受光装置が大型化せざるを得ず、取扱いに不便である。【解決手段】 所定角度で交差する2つの平面光12a、12bを、その交線16が基準点3を通る鉛直線5と垂直に交わるように、該鉛直線5を回転軸線として一定速度で回転させつつ射出し、測定点4を通る鉛直線24上の所定位置に配置した複数の光検出手段21、22で前記平面光12a、12bを受光し、受光した時間間隔と、各光検出手段の高さとから、測定点4の高さを算出する。

Claim (excerpt)：

平面光射出装置と、受光装置と、演算装置とを有し、前記平面光射出装置が配置される基準点の高さと測定点の高さの差を求める高さ測定装置であって、前記平面光射出装置は、所定角度で交差する2つの平面光を、該2つの平面光の交線が基準点を通る垂線と垂直に交わるように射出する発光手段と、前記2つの平面光を前記垂線を回転軸線として所定速度で回転させる回転手段とを有し、前記受光装置は所定位置に固定された2つの光検出手段を有し、前記演算装置は、前記光検出手段を結ぶ直線が測定点を通る鉛直線となるように前記受光装置を配置したときに、前記各光検出手段が前記2つの平面光を受光した受光時刻と、前記各光検出手段の測定点からの高さと、前記交線の基準点の高さとから、前記基準点と測定点との高さの差を算出することを特徴とする高さ測定装置。

IPC (3)：

G01C 5/00 ,  G01B 11/02 ,  G01C 15/00

FI (4)：

G01C 5/00 M ,  G01C 5/00 N ,  G01B 11/02 Z ,  G01C 15/00 L