Pat
J-GLOBAL ID:200903080070683490

視野測定装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 西脇 民雄
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1993229935
Publication number (International publication number):1995079913
Application date: Sep. 16, 1993
Publication date: Mar. 28, 1995
Summary:
【要約】【目的】 検者の勘に頼ることなく客観的に有用な測定点を追加することができて、被検者に無用の負担を強いることなく信頼性の高い視野測定を行うことができる視野測定装置を提供することを目的とする。【構成】 本発明に係わる視野測定装置は、複数個の視標を呈示することにより得られた被検者の各実測値を補間して推定値を含む視野特性分布データを形成するCPU11と、各実測値を含めてその近傍分布を推定した実測値近傍データと視野特性分布データとに基づき実測値からの隔たりが大きいと目される推定領域を意味する疑分布WDを形成する表示部18とを有する。
Claim (excerpt):
複数個の視標を呈示することにより得られた被検者の各実測値を補間して推定値を含む視野特性分布データを形成する視野特性分布データ形成部と、前記各実測値を含めてその近傍分布を推定した実測値近傍データと前記視野特性分布データとに基づき実測値からの隔たりが大きいと目される推定領域を意味する疑分布を形成する疑分布表示部と、を有することを特徴とする視野測定装置。
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (2)
  • 特開平3-202043
  • 特開平3-280928

Return to Previous Page