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J-GLOBAL ID：200903080191958550

分光分析装置

Inventor： 石橋 仁志 ,  樗木 安己 ,  上中 進
Applicant, Patent owner： 株式会社クボタ
Agent (1)： 北村 修
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993167625
Publication number (International publication number)：1995020042
Application date： Jul. 07, 1993
Publication date： Jan. 24, 1995
Summary：

【要約】【目的】 雰囲気温度等の変化に対しても充分に測定精度を確保でき、自動化ラインに配設した場合においても精度の良い分析ができる分光分析装置を得る。【構成】 測定対象のサンプルが出退自在な測定部に測定用光線束を照射する光源と、測定部を透過してくる測定用光線束を分光する分光手段と、分光光線束を受光するアレイ型受光素子とを備えた分光分析装置に、測定用光線束を、夫々、校正光線束、リファレンス光線束とする波長校正部及びリファレンス部と、測定用光線束の遮蔽部と、測定用光線束の通過部とを備えた切換手段を設け、切換手段をサンプル測定毎に測定用光線束が波長校正部を透過する段階から、リファレンス部を透過する段階、遮蔽部により遮断される段階、通過部をそのまま通過される段階の順に切り換える制御手段を設け、サンプル測定毎に波長校正をおこないながら分光分析をおこなう構成とする。

Claim (excerpt)：

測定対象のサンプル(S)が出退自在な測定部(30)に測定用光線束を照射する光源(1)と、前記測定部(30)を透過もしくは前記測定部(30)より反射してくる測定用光線束を分光する分光手段(6)と、分光された前記測定用光線束を受光するアレイ型受光素子(7)とを備えた分光分析装置であって、前記測定用光線束の光路上で前記光源(1)と前記分光手段(6)との間に、前記測定用光線束を透過させて校正光線束とする校正フィルタを備えた波長校正部(20a)と、前記測定用光線束を透過させてリファレンス光線束とするリファレンス部(20b)と、前記測定用光線束を遮断する暗電流測定用遮蔽部(20c)と前記測定用光線束をそのまま通過させる切欠き部(20d)とを備えた切換手段(200)を設け、前記切換手段(200)をサンプル測定毎に、前記測定用光線束が前記波長校正部(20a)を透過する第一段階から、前記リファレンス部(20b)を透過する第二段階、前記暗電流測定用遮蔽部(20c)により遮断される第三段階、前記切欠き部(20d)をそのまま通過される第四段階の記載順に切り換える制御手段(10)を設け、前記第四段階において前記サンプルを前記測定部に配設する出退手段(30a)を設け、サンプル測定毎に波長校正をおこないながら分光分析をおこなう分光分析装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開昭51-141681
  
• 特開昭63-198832
  
• 特開昭49-039471