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J-GLOBAL ID:200903080269132360
半導体放射線検出装置
Inventor:
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
大島 陽一
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2001082530
Publication number (International publication number):2002286847
Application date: Mar. 22, 2001
Publication date: Oct. 03, 2002
Summary:
【要約】【課題】 小型で高エネルギー分解能を持つ放射線検出装置を提供する。【解決手段】 光検出器としてシリコンフォトダイオードではなく、酸化物シンチレータの発光ピーク波長に近い500nm以下に受光ピーク感度を有する半導体受光素子、具体的には禁止帯幅2.5eV以上の化合物半導体を素材とする半導体受光素子、更に具体的には臭化タリウム(TlBr)からなる半導体受光素子を用いることで、その検出器のピーク感度波長を、酸化物シンチレータの発光ピーク波長に近い500nm以下にすることが可能となり、高感度で小型の半導体放射線検出装置を実現できる。
Claim (excerpt):
放射線を受けて発光するシンチレータと、半導体受光素子とを有する放射線検出装置であって、前記シンチレータの発光のピーク波長及び前記半導体受光素子の受光ピーク感度が共に500nm以下となっていることを特徴とする半導体放射線検出装置。
IPC (3):
G01T 1/20
, H01L 27/14
, H01L 31/09
FI (4):
G01T 1/20 E
, G01T 1/20 G
, H01L 27/14 K
, H01L 31/00 A
F-Term (26):
2G088EE01
, 2G088EE02
, 2G088FF02
, 2G088FF04
, 2G088FF07
, 2G088GG19
, 2G088GG20
, 2G088JJ04
, 2G088JJ05
, 4M118AA01
, 4M118AA10
, 4M118AB10
, 4M118BA01
, 4M118CA02
, 4M118CA19
, 4M118CB01
, 4M118CB11
, 5F088AA01
, 5F088AB07
, 5F088BA01
, 5F088BB07
, 5F088HA10
, 5F088HA15
, 5F088LA03
, 5F088LA07
, 5F088LA08
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
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放射線医学用間接X線画像検出器
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-180725
Applicant:エフティーエヌアイインコーポレイテッド
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特開昭62-073677
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放射線二次元検出器
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-110400
Applicant:株式会社島津製作所, 日本放送協会
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