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J-GLOBAL ID:200903080315763311
ガス分析装置
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
横川 邦明
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1993072951
Publication number (International publication number):1994258307
Application date: Mar. 08, 1993
Publication date: Sep. 16, 1994
Summary:
【要約】【目的】 トラップモード測定及びダイレクトモード測定の2つの測定モードを有するガス分析装置において、測定モードの切り換えを簡単化する。また、1回のガス発生時間中に両モード測定を同時に実行できるようにする。【構成】 試料8から発生したガスをトラップするガストラップ装置24と、ガスクロマトグラフ31と、質量分析計4とを有するガス分析装置である。4方向弁28及び6方向弁29の切り換えによってダイレクトモードガス搬送路A、ガストラップ導入路B及びガストラップ排出路Cのいずれかが適宜に選択されて互いに接続され、1回のガス発生期間中にダイレクトモード測定及びトラップモード測定が連続して実行される。
Claim (excerpt):
ガス発生体から出た測定対象であるガスを静止保持するガストラップ手段と、ガスの流れ方向に関してガストラップ手段の下流位置に配置されたガスクロマトグラフと、ガスの質量数を測定する質量分析計とを有するガス分析装置において、ガス発生体から出たガスを直接質量分析計へ導くダイレクトモードガス搬送路と、ダイレクトモードガス搬送路を流れるガスをガストラップ手段へ導くガストラップ導入路と、ガストラップ手段から出たガスをガスクロマトグラフを介して質量分析計へ導くガストラップ排出路と、ダイレクトモードガス搬送路、ガストラップ導入路及びガストラップ排出路のいずれかを選択して互いに連通させるガス流切り換え手段とを設けたことを特徴とするガス分析装置。
IPC (4):
G01N 30/72
, G01N 30/14
, G01N 30/20
, G01N 30/26
Patent cited by the Patent:
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