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J-GLOBAL ID:200903080316888304
数値解析方法および装置
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000353905
Publication number (International publication number):2002157286
Application date: Nov. 21, 2000
Publication date: May. 31, 2002
Summary:
【要約】【課題】大規模な非定常解析を短時間に効率的に実行することができる数値解析方法、解析装置、およびかかる方法を実現するコンピュータプログラムを記憶した記憶媒体を提供すること。【解決手段】解析対象物の解析領域を複数の微小要素に分割した解析モデルを構築する。次に、解析モデルの解析領域内に状態量の時間変化の激しい微小要素を含む領域Aおよび状態量の時間変化の緩やかな微小要素を含む領域Bを設定する。領域Bについては、時間的な計算負荷の小さな計算手法により状態量を求めて状態量Bとし、得られた状態量Bに基づいて境界条件を設定し、領域Aについて時間的な計算負荷の大きな計算手法により求める。
Claim (excerpt):
解析対象物の解析領域を複数の微小要素に分割した解析モデルを構築する工程と、前記解析モデルの解析領域内に状態量の時間変化の激しい微小要素を含む領域Aおよび前記状態量の時間変化の緩やかな微小要素を含む領域Bを設定する工程と、前記領域Bについて時間的な計算負荷の小さな計算手法により状態量を求めて状態量Bとする工程と、前記状態量Bに基づいて境界条件を設定し、前記領域Aについて時間的な計算負荷の大きな計算手法により求める工程とを有することを特徴とする、物理現象の予測解析方法。
IPC (3):
G06F 17/50 612
, B29C 45/76
, G06F 19/00 100
FI (3):
G06F 17/50 612 H
, B29C 45/76
, G06F 19/00 100
F-Term (4):
4F206AM23
, 4F206JA07
, 4F206JL09
, 5B046JA09
Patent cited by the Patent: