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J-GLOBAL ID:200903080345748414

比明度関数の決定によるサンプルの分析方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 塩澤 寿夫 (外2名)
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):1998518005
Publication number (International publication number):2001502062
Application date: Oct. 11, 1997
Publication date: Feb. 13, 2001
Summary:
【要約】少なくとも1つの測定体積内のユニットにより放出、散乱及び/又は反射された放射のゆらぎ強度をモニターすることによりユニットを有するサンプルを特徴付ける方法であって、モニターが少なくとも1つの検出手段により行われ、下記の段階、c) 所定の長さの時間間隔当たりの光子カウント数を反復モードにおいて測定し、b) 前記時間間隔当たりの光子カウント数関数を決定し、d) 前記光子カウント数関数に基づき、前記ユニットの比明度関数を決定することを含む方法。
Claim (excerpt):
少なくとも1つの測定体積中のユニットにより放出、散乱及び/又は反射 された放射のゆらぎ強度のモニターにより、ユニットを有するサンプルの 特徴づけをする方法であって、モニターが少なくとも1つの検出手段によ り行われ、以下の段階 a) 所定長さの時間間隔当たりの光子カウント数を反復モードにおいて測 定し、 b) 前記時間間隔当たりの光子カウント数関数を決定し、 c) 前記光子カウント数関数に基づき、前記ユニットの比明度関数を決定 すること を含む方法。
IPC (3):
G01N 15/00 ,  G01N 21/64 ,  G01N 33/483
FI (4):
G01N 15/00 A ,  G01N 21/64 Z ,  G01N 21/64 F ,  G01N 33/483 C

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