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J-GLOBAL ID：200903080348775390

周波数計測装置

Inventor： 鎌田 一郎
Applicant, Patent owner： 三菱電機株式会社
Agent (1)： 曾我 道照 (外6名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992167387
Publication number (International publication number)：1994011526
Application date： Jun. 25, 1992
Publication date： Jan. 21, 1994
Summary：

【要約】【目的】 簡単な回路で高精度の周波数測定を実現することを目的とする。【構成】 周波数測定対象信号の波形の1周期間のクロックをカウンタ10によりカウントし、そのカウント値から周波数を求める。【効果】 アナログ回路を少なくでき、ディジタル処理することにより低価格で高精度の測定を可能とすることができ、積分回路を無くしたことにより応答速度を速くすることができる。

Claim (excerpt)：

周波数測定対象信号を波形整形する波形整形手段、この波形整形手段の出力の1周期間のクロックをカウントするクロック計数手段、及び前記1周期間のクロック数に基づいて周波数を求める周波数演算手段を備えたことを特徴とする周波数計測装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 特開昭54-130073
  
• 特開昭49-015470
  
• 特開昭60-210768
  
• 特開昭51-075551