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J-GLOBAL ID：200903080368343608
外観検査装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
▲柳▼川 信
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991311755
Publication number (International publication number)：1993128235
Application date： Oct. 30, 1991
Publication date： May. 25, 1993
Summary：
【要約】【目的】 検査パラメータの設定を自動的に行い、半田付けの外観検査の工数を削減する。【構成】 パッケージ1内の予め分かっている不良箇所に照明4から照射光aを照射し、その画像データをカメラ5によって取込む。画像処理装置6はカメラ5からの画像データに対して複数の2値化レベル毎に画像処理を行う。画像処理装置6はその画像データを基に不良箇所毎の濃淡値の検出を行って判定値を設定し、これら2値化レベルおよび判定値を用いて正常な箇所の画像データを検査する。画像処理装置6はその検査結果から不良検出数を集計して過剰認識数を算出し、過剰認識数が最も少ない2値化レベルおよび判定値を検査パラメータとして設定する。
Claim (excerpt)：
不良箇所の画像データに対して予め設定された複数の2値化レベル毎に画像処理する画像処理手段と、前記画像処理手段で画像処理された画像データの濃淡値から特定の濃淡値を判定値として抽出する抽出手段と、前記抽出手段によって抽出された前記判定値を基に正常箇所の画像データを分析して良不良を判定する判定手段と、前記判定手段による判定結果から不良検出回数を算出する算出手段と、前記算出手段で算出された前記不良検出回数を基に前記複数の2値化レベルのうちの一つと前記抽出手段によって抽出された前記判定値とを検査パラメータとして設定する設定手段とを有することを特徴とする外観検査装置。
IPC (2)：
G06F 15/62 405
, H05K 3/34
