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J-GLOBAL ID：200903080368711658

高分子材料の劣化度の評価方法

Inventor：
外山 悟

About 外山 悟


Applicant, Patent owner：
三菱電機株式会社

About 三菱電機株式会社


Agent (3)： 吉田 茂明 ,  吉竹 英俊 ,  有田 貴弘
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2006118701
Publication number (International publication number)：2007292529
Application date： Apr. 24, 2006
Publication date： Nov. 08, 2007
Summary：
【課題】高分子材料の種類や形態によらず、高分子材料の劣化度を高感度で定量的に評価する。【解決手段】高分子材料10の劣化に伴い高分子材料10の表面101に生成したカルボニル基11に、カルボニル基11との反応性を有する試薬12を選択的に作用させることにより、カルボニル基11を化学的に修飾し、カルボニル基11と試薬12との反応生成物13を高分子材料10の表面101に生成する。さらに、カルボニル基11と試薬12とを反応させた後の高分子材料10を熱分解ガスクロマトグラフ法で分析することにより、熱分解生成物14のうち、化学的に修飾されたカルボニル基11、すなわち、反応生成物13に由来する化合物141を定量し、化合物141の量をカルボニル基11の量とみなして、高分子材料10の劣化度の決定の基礎とする。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
高分子材料の劣化度の評価方法であって、 前記高分子材料の劣化に伴い前記高分子材料の表面に生成する官能基を化学的に修飾する修飾工程と、 前記修飾工程を経た前記高分子材料を熱分解ガスクロマトグラフ法で分析し、化学的に修飾された前記官能基に由来する第1物質を定量する分析工程と、 を備え、 前記分析工程で定量された前記第1物質の量を、前記劣化度の決定の基礎とすることを特徴とする高分子材料の劣化度の評価方法。
IPC (3)：
G01N 17/00 ,  G01N 30/06 ,  G01N 30/88
FI (3)：
G01N17/00 ,  G01N30/06 G ,  G01N30/88 101T
F-Term (9)：
2G050AA02 ,  2G050BA04 ,  2G050BA10 ,  2G050BA20 ,  2G050CA04 ,  2G050CA10 ,  2G050EA01 ,  2G050EB10 ,  2G050EC05
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (3) Cited by examiner (4)
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Article cited by the Patent：
Cited by examiner (1)

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