Pat
J-GLOBAL ID:200903080383524627
高効率低コヒーレンス干渉法
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (4):
平木 祐輔
, 関谷 三男
, 渡辺 敏章
, 松丸 秀和
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2006552337
Publication number (International publication number):2007522456
Application date: Feb. 09, 2005
Publication date: Aug. 09, 2007
Summary:
本出願によれば、とりわけ、偏光依存性問題を改善し、光が光源に反射され戻すことを防止するのに役立つ干渉計の実施形態が提示される。干渉計の実施形態は、光源(101)に結合されたアイソレータ(402)と、アイソレータに結合された、光をリファレンスアーム(104)およびサンプルアーム(105)に提供するための偏光依存光学素子(403)とを含むことができ、光検出器(417、418)に提供される反射光は、検出器に結合された光信号プロセッサ(410)で偏光非依存光信号が形成され得るようなものであり、アイソレータは、リファレンスアームおよびサンプルアームからの反射光が光源に入ることを阻止する。いくつかの実施形態では、平衡検出システムが、雑音を低減するために利用されることができる。
Claim (excerpt):
光源と、
前記光源に結合されたアイソレータと、
前記アイソレータに結合された偏光依存光学素子と、
前記偏光依存光学素子に結合されたリファレンスアームと、
前記偏光依存光学素子に結合されたサンプルアームと、
前記偏光依存光学素子に結合された1つまたは複数の光検出器とを含み、
前記偏光依存光学素子は、前記リファレンスアームおよび前記サンプルアームに光を結合し、前記リファレンスアームおよび前記サンプルアームから反射光を受光し、前記1つまたは複数の光検出器に結合された光信号処理ユニットで偏光非依存光信号が形成され得るように光を前記1つまたは複数の検出器に提供し、
前記アイソレータは、前記リファレンスアームおよび前記サンプルアームからの反射光が前記光源に入ることを阻止する干渉計。
IPC (5):
G01N 21/17
, A61B 3/10
, A61B 1/00
, G01B 9/02
, A61B 10/00
FI (6):
G01N21/17 620
, A61B3/10 Z
, A61B1/00 300D
, A61B3/10 R
, G01B9/02
, A61B10/00 E
F-Term (31):
2F064AA09
, 2F064AA15
, 2F064BB00
, 2F064CC01
, 2F064EE01
, 2F064FF07
, 2F064GG02
, 2F064GG23
, 2F064GG32
, 2F064GG39
, 2F064HH01
, 2F064HH05
, 2G059AA05
, 2G059AA06
, 2G059BB12
, 2G059EE09
, 2G059FF02
, 2G059FF08
, 2G059GG04
, 2G059JJ12
, 2G059JJ13
, 2G059JJ17
, 2G059JJ18
, 2G059JJ19
, 2G059JJ20
, 2G059JJ22
, 2G059JJ30
, 2G059KK03
, 2G059NN05
, 4C061CC06
, 4C061FF47
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