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J-GLOBAL ID:200903080406169684

ツイスト角およびセルギャップの測定方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 尾身 祐助
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1994338883
Publication number (International publication number):1996184413
Application date: Dec. 29, 1994
Publication date: Jul. 16, 1996
Summary:
【要約】【目的】 簡単な方法でツイスト角とセルギャップとを同時に求めることができるようにする。【構成】 偏光子2と検光子4とを両者の偏光角が平行になるように対向・配置する。被験物の液晶セル3を偏光子2と検光子4との間において回転させ、透過光が最大(または最小)となる位置で液晶セルを固定する。検光子4(または偏光子2)を1回転回転させ、その間例えば2°刻みで透過光量の測定を行う。測定結果に基づいて、ツイスト角とセルギャップを求める。
Claim (excerpt):
(1)互いの偏光角が所定の角度をなすように設定された偏光子と検光子との間に、被験物である液晶セルを配置し、該液晶セルを回転させて透過光量の最大あるいは最小となる角度で固定する段階と、(2)偏光子あるいは検光子を回転させて透過光量を測定し、その回転角とその回転角に対応する透過光量との関係から被験物である液晶セルのツイスト角とセルギャップとを同時に決定する段階と、を含むことを特徴とするツイスト角およびセルギャップの測定方法。
IPC (2):
G01B 11/14 ,  G01B 11/26

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