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J-GLOBAL ID：200903080429273233

X線断層撮影装置

Inventor： 波田 哲朗
Applicant, Patent owner： 株式会社東芝
Agent (1)： 三澤 正義
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996293027
Publication number (International publication number)：1997164135
Application date： Jun. 27, 1990
Publication date： Jun. 24, 1997
Summary：

【要約】【課題】 診断能向上と被曝線量低減を図ったX線断層撮影装置を提供する。【解決手段】 曝射されるX線により被検体に対して螺旋状のスキャンを行うスキャン手段41と、前記被検体の所定の範囲の透視像を表示する表示手段7と、この表示手段における透視像に基づき所望の断層像形成範囲Eを設定する設定手段8と、この設定手段で設定された範囲情報に基づき、前記断層像形成範囲Eとを断層像を再構成するに必要な補正演算のための補正データ収集範囲Ecとに亘って前記螺旋状データを収集するよう前記スキャン手段を制御する制御手段9と、このスキャン手段により収集された螺旋状のデータを記憶する記憶手段と、前記表示手段における透視像に基づき所望の断層面位置を指定する指定手段8と、この指定手段で指定された位置に対応する螺旋状データを前記記憶手段から抽出しこの抽出データに基づいて断層像を再構成する再構成手段43と、を有することを特徴とするX線断層撮影装置。

Claim (excerpt)：

曝射されるX線により被検体に対して螺旋状のスキャンを行うスキャン手段と、前記被検体の所定の範囲の透視像を表示する表示手段と、この表示手段における透視像に基づき所望の断層像形成範囲Eを設定する設定手段と、この設定手段で設定された範囲情報に基づき、前記断層像形成範囲Eと断層像を再構成するに必要な補正演算のための補正データ収集範囲Ecとに亘って前記螺旋状データを収集するよう前記スキャン手段を制御する制御手段と、このスキャン手段により収集された螺旋状のデータを記憶する記憶手段と、前記表示手段における透視像に基づき所望の断層面位置を指定する指定手段と、この指定手段で指定された位置に対応する螺旋状データを前記記憶手段から抽出しこの抽出データに基づいて断層像を再構成する再構成手段と、を有することを特徴とするX線断層撮影装置。

IPC (3)：

A61B 6/03 371 ,  A61B 6/03 321 ,  A61B 6/03 331

FI (3)：

A61B 6/03 371 ,  A61B 6/03 321 N ,  A61B 6/03 331