Pat
J-GLOBAL ID:200903080430717994
小容量サンプルの化学分析に用いられる光学式検出装置
Inventor:
,
,
,
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
青山 葆 (外1名)
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):1997541605
Publication number (International publication number):2000512747
Application date: May. 27, 1997
Publication date: Sep. 26, 2000
Summary:
【要約】本発明に係る小容量サンプルの化学分析に用いられる光学式検出装置は、誘導光を出す光源(21)と、サンプル用の測定室(7)と、測定室(7)内のサンプルから出た光を受ける光電子検出素子(22)と、誘導光又はサンプルからの光に対する光伝導手段とを備えている。上記装置において、複数の略平面状の薄層部材(2〜7)がサンドイッチ構造で配置されるとともに、上記部材(2〜7)は、光源(21)、測定室(7)、光電子検出素子(22)及び上記光伝導手段を有する。
Claim (excerpt):
小容量サンプルの化学分析に用いられる光学式検出装置において、 誘導光を出す光源(21)と、 サンプル用の測定室(7)と、 測定室(7)内のサンプルから出た光を受ける光電子検出素子(22)と、 誘導光又はサンプルからの光に対する光伝導手段とを有し、 複数の略平面状の薄層部材(2〜7;2a、2b、3a、3b、4a、4b、6a、6b、7)がサンドイッチ構造で配置されており、 上記部材(2〜7;2a、2b、3a、3b、4a、4b、6a、6b、7、が光源(21)、測定室(7)、光電子検出素子(22)及び上記光伝導手段を有することを特徴とする光学式検出装置。
IPC (2):
FI (2):
G01N 21/03 Z
, G01N 21/64 Z
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (8)
-
特開平2-208541
-
特開平4-249743
-
塩基配列決定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-327393
Applicant:株式会社島津製作所
-
漏洩部修繕装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-159777
Applicant:大阪瓦斯株式会社
-
特表昭57-501048
-
特開平2-208541
-
特開平4-249743
-
特表昭57-501048
Show all
Return to Previous Page