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J-GLOBAL ID：200903080522963037
分光方法及び分光装置
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
秋田 収喜
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993054263
Publication number (International publication number)：1994265468
Application date： Mar. 15, 1993
Publication date： Sep. 22, 1994
Summary：
【要約】【目的】 原子または分子の吸収を測定するFM分光法による分光装置について、ショット雑音限界以下で動作する高感度な分光装置を得る。【構成】 第1の光源の光が試料へ入射しないように偏光ビームスプリッタを設置し、この偏光ビームスプリッタでの反射光が入射により位相同期して光を発振する第2の光源を設置し、第2の光源の光が試料に完全に入射する。前記注入同期された第2の光源として、振幅スクイーズド状態で発振するレーザを用いる。
Claim (excerpt)：
第1の光源によりFM変調した光信号を分光用測定試料に入射し、該分光用測定試料から透過したAM光信号を検出して前記分光用測定試料の原子または分子の吸収スペクトルを測定する分光方法において、前記分光用測定試料に入射する光信号として、第1の光源をFM変調した光信号によって第2の光源を注入同期して発振させたFM光信号を用いることにより、第1の光源のFM変調時のAM変調成分を抑圧したことを特徴とする分光方法。
IPC (2)：
Patent cited by the Patent：
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