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J-GLOBAL ID：200903080523895426

質量分析装置

Inventor： 仲山 要二
Applicant, Patent owner： 日本電子株式会社
Agent (1)： 阿部 龍吉 (外7名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999229531
Publication number (International publication number)：2001050945
Application date： Aug. 16, 1999
Publication date： Feb. 23, 2001
Summary：

【要約】【課題】 バックグランド除去が確実に行え、ライブラリ検索での同定判定を向上させる。【解決手段】 クロマトグラフにより化合物を分離しイオン化して質量分析計の測定データを取得し(ステップS13)、全期間の測定データのクロマトグラム(ステップS14)より指定ポイントに基づいてスペクトルを抽出し(ステップS15、S18)、既知の化合物のスペクトルを格納したライブラリを検索して(ステップS19)化合物の定性分析を行う質量分析装置において、指定ポイント近傍の測定データによる各イオンクロマトグラムのピーク判定を行い(ステップS16〜S18)、ピークの存在するイオンのスペクトルを抽出する。

Claim (excerpt)：

クロマトグラフにより化合物を分離しイオン化して質量分析計の測定データを取得し、全期間の測定データのクロマトグラムより指定ポイントに基づいてスペクトルを抽出し既知の化合物のスペクトルを格納したライブラリを検索して化合物の定性分析を行う質量分析装置において、前記指定ポイント近傍の測定データによる各イオンクロマトグラムのピーク判定を行い、ピークの存在するイオンのスペクトルを抽出することを特徴とする質量分析装置。

IPC (3)：

G01N 30/72 ,  G01N 27/62 ,  G01N 30/86

FI (4)：

G01N 30/72 C ,  G01N 30/72 A ,  G01N 27/62 C ,  G01N 30/86 G