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J-GLOBAL ID:200903080583568335

撮像装置及び撮像光学系

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 韮澤 弘 (外7名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1999194400
Publication number (International publication number):2001021805
Application date: Jul. 08, 1999
Publication date: Jan. 26, 2001
Summary:
【要約】【課題】 簡易な構成で、幅広い自然の被写体に対して、色を含め良好な像の再現を可能とする光学系。【解決手段】 撮像光学系1とカラー画像を得るための3つ以上の異なる分光特性を有する電子撮像素子3とそれからの出力を基に信号処理や画像処理を行うコントローラ4とを有する撮像装置において、撮像光学系1中の焦点距離の決定に関わる光学素子は屈折現象のみを用いた光学素子から構成され、同一物点から発し撮像光学系1に入射する入射光束の光量を入力光量とし、その入射光束に対応してコントローラ4から出力する信号の強さを出力信号強度とするとき、波長400nm〜700nmで入力光量に対する出力信号強度の比が最も高い波長の入出力比に対して、波長400nmの入出力比が10%以下である撮像装置。
Claim (excerpt):
少なくとも撮像光学系とカラー画像を得るための3つ以上の異なる分光特性を有する電子撮像素子と該電子撮像素子からの出力を基に信号処理や画像処理を行うコントローラとを有する撮像装置において、前記撮像光学系中の焦点距離の決定に関わる光学素子は、屈折現象のみを用いた光学素子から構成され、同一物点から発し該撮像光学系に入射する入射光束の光量を入力光量とし、その入射光束に対応してコントローラから出力する信号の強さを出力信号強度とするとき、波長400nm〜700nmで入力光量に対する出力信号強度の比が最も高い波長の入出力比に対して、波長400nmの入出力比が10%以下であることを特徴とする撮像装置。
IPC (5):
G02B 15/20 ,  G02B 13/04 ,  G02B 13/18 ,  H04N 5/225 ,  H04N 9/07
FI (6):
G02B 15/20 ,  G02B 13/04 C ,  G02B 13/04 D ,  G02B 13/18 ,  H04N 5/225 D ,  H04N 9/07 A
F-Term (67):
2H087KA03 ,  2H087LA03 ,  2H087PA04 ,  2H087PA05 ,  2H087PA10 ,  2H087PA16 ,  2H087PA18 ,  2H087PB05 ,  2H087PB06 ,  2H087PB14 ,  2H087QA02 ,  2H087QA07 ,  2H087QA12 ,  2H087QA17 ,  2H087QA21 ,  2H087QA22 ,  2H087QA25 ,  2H087QA26 ,  2H087QA34 ,  2H087QA41 ,  2H087QA42 ,  2H087QA45 ,  2H087QA46 ,  2H087RA05 ,  2H087RA12 ,  2H087RA13 ,  2H087RA32 ,  2H087RA41 ,  2H087RA43 ,  2H087RA44 ,  2H087RA48 ,  2H087SA23 ,  2H087SA27 ,  2H087SA29 ,  2H087SA32 ,  2H087SA63 ,  2H087SA64 ,  2H087SA65 ,  2H087SA72 ,  2H087SB02 ,  2H087SB04 ,  2H087SB14 ,  2H087SB15 ,  2H087SB23 ,  2H087SB24 ,  2H087SB32 ,  2H087SB35 ,  5C022AA13 ,  5C022AB21 ,  5C022AC51 ,  5C022AC54 ,  5C022AC55 ,  5C065AA01 ,  5C065BB09 ,  5C065BB13 ,  5C065CC01 ,  5C065DD01 ,  5C065DD02 ,  5C065EE01 ,  5C065EE03 ,  5C065EE06 ,  5C065EE07 ,  5C065EE12 ,  5C065EE14 ,  5C065EE16 ,  5C065GG27 ,  5C065HH01
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (10)
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