Pat
J-GLOBAL ID:200903080667547180
ネガ型レジスト組成物
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
小栗 昌平 (外4名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000280035
Publication number (International publication number):2002090986
Application date: Sep. 14, 2000
Publication date: Mar. 27, 2002
Summary:
【要約】【課題】 高感度、高解像力を有し、矩形状の優れたパターンプロファイルを与えることができしかもPCD、PED安定性に優れたネガ型電子線又はX線レジスト組成物を提供することにある。【解決手段】(A)フェノール性水酸基が部分的に、アルキルエーテル化,、アリールエーテル化、アルケニルエーテル化あるいはアラルキルエーテル化されたポリビニルフェノール、及びフェノール性水酸基が部分的に、アルキルエーテル化、アリールエーテル化、アルケニルエーテル化あるいはアラルキルエーテル化された水素添加ポリビニルフェノールからなる群から選択される少なくとも1種を含有するアルカリ可溶性樹脂、(B)電子線又はX線の照射により酸を発生する化合物、(C)酸により架橋する架橋剤、及び(D)特定の構造を分子内に少なくとも1つ有する含窒素化合物を含有することを特徴とする電子線用及び/又はX線用化学増幅系ネガ型レジスト組成物。
Claim (excerpt):
(A)フェノール性水酸基が部分的に、アルキルエーテル化,、アリールエーテル化、アルケニルエーテル化あるいはアラルキルエーテル化されたポリビニルフェノール、及びフェノール性水酸基が部分的に、アルキルエーテル化、アリールエーテル化、アルケニルエーテル化あるいはアラルキルエーテル化された水素添加ポリビニルフェノールからなる群から選択される少なくとも1種を含有するアルカリ可溶性樹脂、(B)電子線又はX線の照射により酸を発生する化合物、(C)酸により架橋する架橋剤、及び(D)下記一般式(X)で示される部分構造を分子内に少なくとも1つ有する含窒素化合物を含有することを特徴とする電子線用及び/又はX線用化学増幅系ネガ型レジスト組成物。【化1】
IPC (6):
G03F 7/004 501
, C08K 5/00
, C08K 5/16
, C08L 25/18
, G03F 7/038 601
, H01L 21/027
FI (6):
G03F 7/004 501
, C08K 5/00
, C08K 5/16
, C08L 25/18
, G03F 7/038 601
, H01L 21/30 502 R
F-Term (33):
2H025AA01
, 2H025AA02
, 2H025AA03
, 2H025AB16
, 2H025AC05
, 2H025AC06
, 2H025AD01
, 2H025BE07
, 2H025BE10
, 2H025CB17
, 2H025CB41
, 2H025CC17
, 2H025CC20
, 2H025FA00
, 4J002BC12W
, 4J002CD05X
, 4J002EB006
, 4J002EJ017
, 4J002EJ047
, 4J002EQ016
, 4J002EU107
, 4J002EU187
, 4J002EU237
, 4J002EV047
, 4J002EV246
, 4J002EV296
, 4J002EW176
, 4J002FD090
, 4J002FD14X
, 4J002FD147
, 4J002FD206
, 4J002FD310
, 4J002GP03
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