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J-GLOBAL ID:200903080673569390

異常陰影候補の検出処理方法および装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 柳田 征史 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000030346
Publication number (International publication number):2001222703
Application date: Feb. 08, 2000
Publication date: Aug. 17, 2001
Summary:
【要約】【課題】 異常陰影候補の検出処理装置において、異常陰影候補の検出レベルを、ユーザの検出要求レベルに適応させる。【解決手段】 記憶手段2に記憶されている閾値よりも出力値Kが大きければ異常陰影候補として検出し、出力値Kが閾値と等しいか小さければ異常陰影候補として検出しない、という内容の検出処理を行なう異常陰影候補検出処理装置10が、当該閾値を変更する閾値変更手段3を備える。
Claim (excerpt):
被写体の放射線画像を表す画像信号に基づいて、前記放射線画像中の異常陰影候補を検出する異常陰影候補の検出処理方法において、前記異常陰影候補の検出レベルを制御する検出処理制御パラメータを変更自在としたことを特徴とする異常陰影候補の検出処理方法。
IPC (3):
G06T 1/00 ,  A61B 6/00 ,  H04N 7/18
FI (3):
H04N 7/18 L ,  G06F 15/62 380 ,  A61B 6/00 350 D
F-Term (21):
4C093FD05 ,  4C093FD09 ,  4C093FD11 ,  4C093FD20 ,  4C093FF17 ,  4C093FF19 ,  5B057AA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CB08 ,  5B057CB12 ,  5B057CB17 ,  5B057CE06 ,  5B057CH09 ,  5B057CH11 ,  5B057DB02 ,  5B057DC19 ,  5C054CA02 ,  5C054FC00 ,  5C054FC05 ,  5C054FC12 ,  5C054HA12
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (2)

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