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J-GLOBAL ID：200903080702795647

高い位置に配置されたサンプル表面を有するチップ

Inventor： インダーミュール ピエール エフ ,  ゾウグ フランク ジー ,  ワグナー ピーター ,  ノック ステファン
Applicant, Patent owner： ザイオミックス インコーポレイテッド
Agent (1)： 中村 稔 (外9名)
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2001562662
Publication number (International publication number)：2003524193
Application date： Feb. 23, 2001
Publication date： Aug. 12, 2003
Summary：

【要約】本発明は、非サンプル表面であるベースと、ピラーから成るサンプル構造体を有する試験器具を提供する。本発明の一実施形態であるチップは、非サンプル表面を有するベース(22)と、少なくとも1つの構造体(25(a),25(b))と、を有する。各構造体(25(a),25(b))は、ピラー(20(a),20(b))と、非サンプル表面に対して高い位置に配置されたサンプル表面(24(a),24(b))と、を有する。サンプル表面(24(a),24(b))は、サンプルをディスペンサから受け取るようになっている。

Claim (excerpt)：

チップであって、 a)非サンプル表面を有するベースと、 b)少なくとも1つの構造体と、を有し、各構造体は、ピラーと、非サンプル表面に対して高い位置に配置され且つサンプルをディスペンサから受け取るようになったサンプル表面と、を有していることを特徴とするチップ。

IPC (4)：

G01N 33/53 ,  G01N 35/04 ,  G01N 35/10 ,  G01N 37/00 102

FI (4)：

G01N 33/53 D ,  G01N 35/04 F ,  G01N 37/00 102 ,  G01N 35/06 J

F-Term (4)：

2G058AA09 ,  2G058CC00 ,  2G058ED19 ,  2G058GB10