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J-GLOBAL ID：200903080706947719

計測用内視鏡装置

Inventor： 崎山 勝則 ,  高橋 進 ,  高山 敏一 ,  田端 誠一郎 ,  栗田 裕之
Applicant, Patent owner： オリンパス光学工業株式会社
Agent (1)： 伊藤 進
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992110106
Publication number (International publication number)：1993211988
Application date： Apr. 28, 1992
Publication date： Aug. 24, 1993
Summary：

【要約】【目的】 煩雑なキャリブレーションを必要とせず、立体形状を精度よく、かつ迅速に求めることができる計測用内視鏡装置を提供すること。【構成】 被検体像を撮像する撮像ユニット26と、被検体に対して3次元情報を得るための干渉縞を照射する干渉縞投影ユニット27と、内視鏡の挿入部先端から被検体までの距離を計測するための輝点を投影するレーザスポット投影ユニット28と、被検体に形成された干渉縞と測距情報に基づいて被検体の3次元情報を演算するコンピュータなどを具備している。

Claim (excerpt)：

被検体像を撮像する撮像手段と、前記被検体に対して干渉縞を照射する干渉縞照射手段と、内視鏡の挿入部先端から被検体までの距離を測定する測距手段と、前記測距手段の測距情報に基づいて前記被検体の3次元情報を演算する演算手段と、を具備したことを特徴とする計測用内視鏡装置。

IPC (4)：

A61B 1/00 300 ,  A61B 5/107 ,  G01B 11/30 ,  G02B 23/24