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J-GLOBAL ID：200903080818239180

表面歪み判定方法

Inventor： 森田 尚人 ,  宮岡 博也 ,  児玉 彰
Applicant, Patent owner： 本田技研工業株式会社
Agent (1)： 千葉 剛宏 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994304690
Publication number (International publication number)：1996159740
Application date： Dec. 08, 1994
Publication date： Jun. 21, 1996
Summary：

【要約】 (修正有)【目的】適切な判定基準に基づいて製品表面の歪みの良否を自動的に判定することが可能な表面歪み判定方法を提供する。【構成】製品の表面形状を測定してスムージングデータを得(S11)、歪みを視認することのない表面形状の近似式f(x)を生成する(S12)。スムージングデータを微分演算し、1次微分データおよび2次微分データを求める一方(S13、S16)、1次微分データの近似式g(x)を求める(S14)。1次微分データと近似式f(x)とが交差する点を歪み中心点とし(S15)、歪み中心点におけるスムージングデータと近似式f(x)との差を歪み量として求める(S18)。2次微分データの変動量の大きな部分を抽出し、その範囲を歪み中心点の周囲における歪み範囲とする(ステップS17)。のようにして求められた歪み量および歪み範囲を判定基準データと比較することにより、表面歪みの良否を適切に判定する(S20)。

Claim (excerpt)：

製品の表面形状を測定し、測定表面形状データを得る第1ステップと、前記測定表面形状データを微分演算し、1次微分データを求める第2ステップと、前記1次微分データを円滑化処理し、円滑化1次微分データを生成する第3ステップと、前記円滑化1次微分データと前記1次微分データとから、歪み中心点を求める第4ステップと、前記歪み中心点における前記製品の基準表面形状データと前記測定表面形状データとの差を歪み量として求める第5ステップと、前記1次微分データを微分演算し、2次微分データを求める第6ステップと、前記2次微分データから前記歪み中心点の周囲における歪み範囲を求める第7ステップと、からなり、前記歪み量および前記歪み範囲に基づき、製品表面の歪みの良否を判定することを特徴とする表面歪み判定方法。

IPC (4)：

G01B 11/30 ,  G01B 11/24 ,  G06T 7/00 ,  G06T 7/60

FI (3)：

G06F 15/62 400 ,  G06F 15/62 415 ,  G06F 15/70 350 G