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J-GLOBAL ID：200903080833947000

顕微全反射吸収スペクトル測定装置

Inventor： 高木 伸朗
Applicant, Patent owner： 株式会社島津製作所
Agent (1)： 縣 浩介
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992184552
Publication number (International publication number)：1994003262
Application date： Jun. 18, 1992
Publication date： Jan. 11, 1994
Summary：

【要約】【目的】 簡単な機構により試料の分析点を目視できるようにすることを目的とする。【構成】 顕微全反射吸収スペクトル測定装置において、対物反射鏡と試料との間に、中央部に孔を設けた目視用アパーチャーと下方同軸にATRプリズムを配置したATR測定用輪状アパーチャーとを上記対物反射の光軸と平行な軸で回動可能に保持し、目視時とATR測定時とで2つのアパーチャーを切換えるようにした。

Claim (excerpt)：

凹面主鏡と副鏡よりなる反射対物光学系を有し、同光学系の集光点を中心とする半球形ATRプリズムを備えた全反射吸収スペクトル測定装置において、上記反射対物光学系の鏡筒下端面に上記光学系の光軸と平行な軸を中心に回動可能に切換板を枢着し、この切換板を回動させたとき、同板上に画かれる上記反射対物光学系の光軸の通過軌跡上に中心を置いて二種のアパーチャーを設け、その一方は、上記反射対物光学系の周辺光束を遮蔽し、中心光束を通す円形開口とし、他方を上記反射対物光学系の周辺光束を通し、中心光束を遮蔽する輪状開口とし、かつ上記切換板で上記後者のアパーチャーの下にATRプリズムを固定したことを特徴とする顕微全反射吸収スペクトル測定装置。