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J-GLOBAL ID：200903080850971535
光伝送特性測定装置
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
大塚 学
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993325767
Publication number (International publication number)：1995154378
Application date： Dec. 01, 1993
Publication date： Jun. 16, 1995
Summary：
【要約】【目的】フェージング現象が存在しても実時間で高い精度のQ値測定を可能とする光伝送特性測定装置を提供する。【構成】データおよびクロック信号入力部、複数の信号弁別器からなる信号弁別部、測定結果を表示する表示部、およびそれらを制御する制御部からなる。従来の誤り検出器には信号弁別器が1個しかないため、複数の信号弁別レベルでのBERを測定するためには各レベル毎に測定を繰り返す必要があるが、本発明により複数の信号弁別器を持つことにより実時間で一括してBER測定が可能となり、Q値計算のためのデータを実時間で得られる。
Claim (excerpt)：
光ファイバ伝送路の伝送特性として、光通信システムの伝送特性評価用パラメータであり次の式【数1】Q=|μm -μs |/(σm +σs )(但し、μm はマークレベルの平均値、μs はスペースレベルの平均値、σm はマークレベルの標準偏差、σs はスペースレベルの標準偏差である。)によって定義される光受信器における電気信号のS/N比を示すQ値を測定する装置において、該光ファイバ伝送路を経由した光信号を電気信号に変換したデータ信号および該データ信号から抽出したクロック信号をn等分する信号入力部と、該n等分した各デジタル信号の符号誤り率を一括して実時間で求めるn個の信号弁別器からなる信号弁別部と、該信号弁別部の信号弁別レベルを制御し該信号弁別部からの実時間の符号誤り率によりQ値を計算する制御部と、該Q値を表示する表示部とを備え、実時間でかつ高精度の測定を可能とするように構成されたことを特徴とする光伝送特性測定装置。
IPC (2)：
H04L 1/20
, H04L 25/02 302
