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J-GLOBAL ID：200903080876235527

製品設計仕様評価システム及び製品設計仕様評価方法

Inventor： 杉野 和宏 ,  西川 博子 ,  苣木 貴雄 ,  西 邦彦 ,  安原 敏浩
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 富田 和子
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993229054
Publication number (International publication number)：1994325109
Application date： Sep. 14, 1993
Publication date： Nov. 25, 1994
Summary：

【要約】【目的】過去の試作品における不良現象,製品を解析する際の評価項目,製品の各設計の諸元との関係を生成し、この関係に基づいて新製品の設計仕様案を評価して最適化する。【構成】既試作品の設計仕様・不良情報を含むデ-タを試作デ-タ管理部24に有し、評価項目の各々の解析プログラムを設計知識管理部25に有する。新製品の設計仕様案から製品形状・材質の特徴量を抽出し、該特徴量と類似する特徴量を持つデ-タを試作データ管理部24から取り出し、不良現象、評価項目及び設計諸元の3要素間の関係(不良因果関係)を不良因果関係生成部26により生成する。この不良因果関係に基づいて、解析すべき評価項目の順序を評価順序生成部28により生成する。この順序で、前記設計知識管理部25に格納されたシミュレ-ションプログラムにより評価項目の解析を行ない、この解析結果に基づいて入力された製品設計仕様案の設計諸元の値の修正の要否を設計案評価部42により判定する。

Claim (excerpt)：

少なくとも、製品の形状,構造,材質,製造条件,設計制約のうちの1つを含む製品設計仕様案を入力する入力手段と、既に試作された製品の設計仕様である試作仕様と、該試作仕様毎の不良の種類,発生率,発生部位の少なくとも1つを含む不良情報とから成る試作デ-タを予め保持し管理する試作デ-タ管理手段と、製品設計仕様案を評価する際に解析を行なうべき評価項目のそれぞれに対して、解析を行なうためのシミュレ-ションプログラムを有する設計知識管理手段と、前記製品設計仕様案から製品の特徴量を抽出し、該特徴量と類似する特徴量を有する試作デ-タを前記試作デ-タ管理手段から取り出し、評価項目と不良現象との第1の関係、および、製品設計仕様案による製品の設計データである設計諸元と前記評価項目との第2の関係を求め、前記第1および第2の関係から不良現象、評価項目及び設計諸元の3要素間の関係である不良因果関係を生成する不良因果関係生成手段と、該不良因果関係生成手段から得られる不良因果関係から不良発生率の大小、設計制約の強弱、諸元修正の難易のうち少なくとも1つを考慮して、解析すべき評価項目の順序を生成する評価順序生成手段と、該評価順序生成手段により生成された順序に従って、前記設計知識管理手段に格納されたシミュレ-ションプログラムを用いて評価項目の解析を行ない、この解析結果に基づいて入力された製品設計仕様案の設計諸元の値の修正の要否を判定する設計案評価手段と、を備えることを特徴とする製品設計仕様評価システム。

IPC (2)：

G06F 15/60 310 ,  G06F 15/20