Pat
J-GLOBAL ID:200903080942082265
時系列予測装置
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
長澤 俊一郎 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1997007183
Publication number (International publication number):1998207857
Application date: Jan. 20, 1997
Publication date: Aug. 07, 1998
Summary:
【要約】【課題】 与えられた予測モデルに対して、より高精度な時系列予測を行うことが可能なパラメータを得ること。【解決手段】 評価手段3は、サンプルテスト法により時系列モデル2の予測結果を評価する。すなわち、ある予測方法が与えられた場合、サンプル時系列1から何点かの初期値を選び、各初期値より時系列予測を行い、それぞれの結果と対応する既知サンプルデータを比較することにより、その予測方法の精度を評価する。最適化手段4は、初期パラメータ5を遺伝子型データに変換し、初期集団を作る。そして、上記評価手段3の評価結果に基づき、淘汰、増殖、交叉、突然変異等の遺伝的アルゴリズムにおける遺伝的操作を行い上記集団をより高い適応度をもつ集団に変化させ、得られた最適集団の中から最適な染色体(個体)を選び、それに対応する最適パラメータ6を得る。
Claim (excerpt):
時系列モデルと、該時系列モデルの予測結果を評価する評価手段と、上記時系列モデルのパラメータを最適化する最適化手段とを備えた時系列予測装置であって、上記最適化手段は、上記評価手段の評価結果に基づき、遺伝的アルゴリズムを用いて上記時系列モデルのパラメータに対応した染色体から構成される集団を、より高い適応度を持つ集団に進化させることにより、上記時系列モデルのパラメータを最適化することを特徴とする時系列予測装置。
Return to Previous Page