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J-GLOBAL ID：200903081161973950

設計支援システム

Inventor： 西川 博子 ,  杉野 和宏 ,  西 邦彦 ,  安原 敏浩
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 富田 和子
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993044059
Publication number (International publication number)：1994259294
Application date： Mar. 04, 1993
Publication date： Sep. 16, 1994
Summary：

【要約】【目的】 製品設計において、設計案の評価を行う際に、評価すべき項目の選定、評価順序の決定を客観的かつ自動的に行うことのできる設計支援システムを提供することを目的とする。【構成】 過去において実測値あるいはシミュレ-ション結果として得られたデ-タを試作データベース28に格納しておく。また、設計知識デ-タベ-ス24に、不良種類、評価項目、設計諸元の3要素の対応関係を格納しておく。設計案の評価を行う際には、設計知識デ-タベ-ス24を用いて当該設計案についての不良因果関係(不良種類と評価項目と設計諸元との相互関係)を生成する。そして、その後、該因果関係を構成する要素間の繋がりの強さを、試作デ-タベ-ス28内のデ-タを用いて決定する。そして、これを用いて評価項目の序列化を行う。

Claim (excerpt)：

評価対象となる設計案の設計デ-タを入力する入力手段と、上記設計デ-タを用いて設計案を分類するための分類基準、および、該分類毎に定義された、設計案を評価する際に解析を行うべき評価項目と該評価項目の評価結果に相関を有することを確認された不良の種類との対応関係と、を含んで構成される設計知識を格納した設計知識デ-タベ-スと、上記入力手段を介して入力された設計案の属する分類を、上記分類基準に従って決定する分類手段と、上記設計知識デ-タベ-スを検索することによって、上記分類手段により決定された分類について定義されている、評価項目と不良の種類との対応関係を抽出する不良因果関係抽出手段と、過去において実際に製作された製品について、少なくとも、その設計デ-タと、各評価項目毎の評価結果と、不良の種類ごとの発生率と、を対応づけて構成された過去デ-タを格納した試作デ-タベ-スと、上記入力手段から入力された設計案と同じ分類に属する製品の過去デ-タを上記試作デ-タベ-スから検索し、発見された過去デ-タの中から、上記不良因果関係抽出手段の抽出した評価項目についての評価結果と、該評価項目と対応があるとして上記不良因果関係抽出手段により抽出された不良についての発生率とを、抽出する抽出手段と、上記抽出手段の抽出した評価項目についての評価結果と上記抽出手段の抽出した不良の発生率とを用いて、当該評価項目と当該不良との関係を反映したパラメ-タを、評価項目と不良との組合せ毎に求めるパラメ-タ算出手段と、上記不良因果関係抽出手段の抽出した評価項目と不良の種類との対応関係と、各対応関係について上記各パラメ-タの値に応じて定まる重みを出力する出力手段と、を有することを特徴とする設計支援システム。

IPC (4)：

G06F 12/00 513 ,  G06F 15/60 310 ,  H01L 21/56 ,  H01L 23/50