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J-GLOBAL ID：200903081226442567

データ処理試験装置

Inventor： 遠藤 ゆかり ,  松本 成仁
Applicant, Patent owner： 株式会社東芝
Agent (1)： 本田 崇
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993156861
Publication number (International publication number)：1995013795
Application date： Jun. 28, 1993
Publication date： Jan. 17, 1995
Summary：

【要約】【目的】 本発明に係るデータ処理試験装置は、短時間で網羅的な試験用データによる適切な試験を可能とする。【構成】 本発明に係るデータ処理試験装置は、入力データが所与のデータ仕様情報3に合致しているか否かを判定するデータ処理装置10の処理の適否を試験するデータ処理試験装置に、前記仕様情報3に基づき当該仕様に合致している正常データ及び合致していない異常データからなる試験用データ4を作成する作成制御手段1と、この作成制御手段1により作成された試験用データ4を前記データ処理装置10に与えて処理動作を実行させる入力模擬手段5と、前記試験用データ4に対応する前記データ処理装置10の処理結果を取り出すモニタ手段6と、情報を表示するための表示手段8A、8B、9と、前記モニタ手段6が取り出した処理結果と、処理に係る試験用データ4とに基づき前記データ処理装置10の処理の適否を評価し前記表示手段8A、8B、9に表示する評価手段7とを具備する。

Claim (excerpt)：

入力データが所与のデータ仕様情報に合致しているか否かを判定するデータ処理装置の処理の適否を試験するデータ処理試験装置において、前記仕様情報に基づき当該仕様に合致している正常データ及び合致していない異常データからなる試験用データを作成する作成制御手段と、この作成制御手段により作成された試験用データを前記データ処理装置に与えて処理動作を実行させる入力模擬手段と、前記試験用データに対応する前記データ処理装置の処理結果を取り出すモニタ手段と、情報を表示するための表示手段と、前記モニタ手段が取り出した処理結果と、処理に係る試験用データとに基づき前記データ処理装置の処理の適否を評価し前記表示手段に表示する評価手段とを具備することを特徴とするデータ処理試験装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• プログラムテストデータ自動作成装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-294449   Applicant：株式会社東芝
• 特開平1-226038