Pat

J-GLOBAL ID：200903081315890328

計測システム

Inventor： 森 健 ,  大川 浩美 ,  小島 淳二
Applicant, Patent owner： 株式会社堀場製作所
Agent (1)： 藤本 英夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992282469
Publication number (International publication number)：1994111174
Application date： Sep. 28, 1992
Publication date： Apr. 22, 1994
Summary：

【要約】【目的】 送信部における低消費電力化および多チャンネル測定における送信タイミングの改善を図ることにより、無線による測定データの送信を採用した計測システムをより改良すること。【構成】 測定電極Eにおいて、送信すべき測定データと前回送信した測定データ信号とを比較して、両者に所定の値以上の差が生じてないときはデータ送信を行わないようにした。

Claim (excerpt)：

測定電極によって得られた電極信号をAD変換し、このAD変換によって得られた測定データを計器に対して無線によって送信し、計器において測定結果を表示または記録するように構成された計測システムにおいて、前記測定電極において、送信すべき測定データと前回送信した測定データ信号とを比較して、両者に所定の値以上の差が生じてないときはデータ送信を行わないようにしたことを特徴とする計測システム。

IPC (2)：

G08C 17/00 ,  G08C 19/00

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 特開平3-057398
  
• 特開平2-092096
  
• 特開平3-117931
  
• 特開平2-200093