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J-GLOBAL ID：200903081385502490
同軸反射型計測装置の校正方法及び同軸反射型計測装置
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
本多 小平 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993044922
Publication number (International publication number)：1994258225
Application date： Mar. 05, 1993
Publication date： Sep. 16, 1994
Summary：
【要約】【目的】 搬送コンベア上で搬送される物品の計測作業を中断することなく校正を行ない、且つ、校正を多く実施することによって、計測作業能率を向上させることができると共に測定精度を高めることができる同軸反射型計測装置の校正方法及び同軸反射型計測装置を提供すること。【構成】 搬送コンベアを挟んで同軸反射型計測装置の投受光口と校正用基準反射板とを対向させて配置し、搬送コンベアにより搬送される先行の物品と後行の物品との間隙を介して前記校正用基準反射板と前記投受光口とが対向し且つ校正指示信号が出される都度校正用基準反射板からの反射光より校正データを得て、この校正データに基づき物品からの反射光の反射強度又は反射率を求めるように構成する。
Claim (excerpt)：
搬送コンベアにより定間隔又は不定間隔で搬送される物品に向けて光を照射し、その反射光を受光して校正データに基づき反射強度又は反射率を求める同軸反射型計測装置の校正方法であって、前記搬送コンベアを挟んで前記同軸反射型計測装置の投受光口と校正用基準反射板とを対向させて配置し、搬送コンベアにより搬送される先行の物品と後行の物品との間隙を介して前記校正用基準反射板と前記投受光口とが対向し且つ校正指示信号が出される都度校正用基準反射板からの反射光より校正データを得てこれを更新記憶することを特徴とする同軸反射型計測装置の校正方法。
IPC (4)：
G01N 21/85
, G01J 1/00
, G01M 11/00
, G01N 21/55
