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J-GLOBAL ID:200903081407120731

被曝線量計算方法およびX線撮影装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (2): 井島 藤治 ,  鮫島 信重
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003432791
Publication number (International publication number):2005185648
Application date: Dec. 26, 2003
Publication date: Jul. 14, 2005
Summary:
【課題】 X線を検出することなく撮影中の被検体の被曝線量を計算によって求める方法、および、そのような被曝線量計算手段を有するX線撮影装置を実現する。【解決手段】 X線を利用して被検体を撮影する撮影手段とX線撮影時の被検体の被曝線量を検出する検出手段とを有するX線撮影装置であって、検出手段(80)は、X線管の管電圧に対応するドースレートを記憶する第1のルックアップテーブル(804)と、コリメータのブレード位置に対応する照射面積を記憶する第2のルックアップテーブル(806)と、管電圧の現在値に対応するドースレートを前記第1のルックアップテーブルから求め、コリメータのブレードの現在位置に対応する照射面積を前記第2のルックアップテーブルから求め、ドースレート、照射面積、X線管の管電流およびX線照射時間の積を求める計算手段(802)とを有する。【選択図】 図2
Claim (excerpt):
X線撮影時の被検体の被曝線量を求める方法であって、 X線管の管電圧に対応するドースレートを予め作成された第1のルックアップテーブルから求め、 X線の照射範囲を規制するコリメータのブレード位置に対応する照射面積を予め作成された第2のルックアップテーブルから求め、 ドースレート、照射面積、X線管の管電流およびX線照射時間の積を求める、 ことを特徴とする被曝線量計算方法。
IPC (1):
A61B6/00
FI (2):
A61B6/00 390Z ,  A61B6/00 302
F-Term (7):
4C093AA04 ,  4C093CA33 ,  4C093CA34 ,  4C093EA02 ,  4C093EA14 ,  4C093EB02 ,  4C093EE30
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
  • 米国特許明細書第5,694,449号(第3-5欄、図1-4)
Cited by examiner (1)

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