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J-GLOBAL ID：200903081435847566

電磁波発生源探査装置

Inventor： 上坂 晃一 ,  須賀 卓
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 作田 康夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002084749
Publication number (International publication number)：2003279611
Application date： Mar. 26, 2002
Publication date： Oct. 02, 2003
Summary：

【要約】【課題】 電磁波発生源の探査精度を向上させる。【解決手段】 3次元筐体近傍の磁界分布を測定する磁界プローブと、x方向、y方向、z方向、θ方向およびφ方向にプローブを移動させる手段と、磁界分布から電流分布を求める手段と、電流分布から所望の距離における電界強度を求める手段を備えさせる。

Claim (excerpt)：

3次元筐体近傍の磁界分布を測定する磁界プローブと、x、y、z、θおよびφ方向にプローブを移動又は回転させる手段と、磁界分布から電流分布を求める手段と、電流分布から所望の距離における電界強度を求める手段と、を有することを特徴とする電磁波発生源探査装置。

IPC (3)：

G01R 29/08 ,  G01R 29/10 ,  G01R 33/10

FI (3)：

G01R 29/08 D ,  G01R 29/10 E ,  G01R 33/10

F-Term (4)：

2G017AA01 ,  2G017AC06 ,  2G017AC08 ,  2G017BA16