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J-GLOBAL ID：200903081444883990

顕微観察装置および顕微観察方法

Inventor： 八尋 寛司
Applicant, Patent owner： 松下電器産業株式会社
Agent (1)： 岩橋 文雄 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001106760
Publication number (International publication number)：2002303801
Application date： Apr. 05, 2001
Publication date： Oct. 18, 2002
Summary：

【要約】【課題】 生体試料の顕微鏡画像を効率よく取得することができる顕微観察装置および顕微観察方法を提供することを目的とする。【解決手段】 マイクロプレート7に収容された生体試料の顕微鏡画像を撮像する顕微観察装置において、マイクロプレート7に定義された基準点Rを原点とする複数のウェル7aの中心位置座標(Xw、Yw)と、この中心位置座標(Xw、Yw)を原点とするウェル7a内の観察位置27の相対位置座標に基づいて、マイクロプレート7を保持した試料テーブルを移動させるテーブル移動機構移動手段を制御して、複数のウェル7aの観察位置27をカメラによる撮像位置に位置決めする。これにより、生体試料の顕微鏡画像を効率よく取得することができる。

Claim (excerpt)：

容器の複数の試料収容部に収容された生体試料の顕微鏡画像を撮像する顕微観察装置であって、生体試料を収容する容器を保持する保持手段と、容器内の生体試料の顕微鏡画像を撮像する撮像手段と、この撮像手段に対して前記保持手段に保持された容器を相対的に移動させる移動手段と、前記容器に定義された基準点を原点とする複数の前記試料収容部の位置座標とこの位置座標を原点とする観察位置の相対位置座標に基づいて前記移動手段を制御することにより複数の前記試料収容部を前記撮像手段による撮像位置に位置決めする観察位置制御手段とを備えたことを特徴とする顕微観察装置。

IPC (2)：

G02B 21/36 ,  G02B 21/26

FI (2)：

G02B 21/36 ,  G02B 21/26

F-Term (4)：

2H052AD03 ,  2H052AD19 ,  2H052AF14 ,  2H052AF21

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (2)

• 光学検査装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-085190   Applicant：ニッポン・ディーピーシー・コーポレーション
• 顕微鏡システム
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-355198   Applicant：オリンパス光学工業株式会社