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J-GLOBAL ID：200903081477038005

X線画像診断装置

Inventor：
池田 重之

About 池田 重之

, 
菅野 修二

About 菅野 修二

, 
中村 正

About 中村 正


Applicant, Patent owner：
株式会社日立メディコ

About 株式会社日立メディコ


Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003117810
Publication number (International publication number)：2004321346
Application date： Apr. 23, 2003
Publication date： Nov. 18, 2004
Summary：
【課題】リアルタイムに変化する残像の減衰特性を対応した残像補正処理が可能なX線画像診断装置を提供する。【解決手段】被検者1にX線を照射するX線源3と、X線源3と被検者1を挟んで対向配置され被検者1の透過X線をX線画像として検出するX線平面検出器4と、X線平面検出器4により検出されたX線画像を画像処理する画像処理部8と、画像処理部8により画像処理されたX線画像を表示するモニタ9とを備え、画像処理部8に組み込まれた残像補正処理部は、複数のX線透視又はX線撮影の各モードに応じたX線平面検出器4の残像の減衰情報を記憶する減衰テーブル12と、減衰テーブル12に記憶されたX線平面検出器4の残像の減衰情報に基づき経時的に減衰される残像の補正演算を行う演算部13とを具備する。【選択図】 図2
Claim (excerpt)：
被検者にX線を照射するX線発生部と、このX線発生部と前記被検者を挟んで対向配置され前記被検者の透過X線をX線画像として検出するX線平面検出器と、このX線平面検出器により検出されたX線画像を表示する表示装置とを備えたX線診断装置において、複数のX線透視又はX線撮影の各モードに応じた前記X線平面検出器の残像の減衰情報を記憶する手段と、この記憶手段に記憶された前記X線平面検出器の残像の減衰情報に基づき経時的に減衰される残像の補正演算を行う手段とを備えたことを特徴するX線画像診断装置。
IPC (2)：
A61B6/00 ,  H04N5/225
FI (2)：
A61B6/00 300S ,  H04N5/225 Z
F-Term (24)：
4C093AA01 ,  4C093AA07 ,  4C093AA16 ,  4C093CA13 ,  4C093EB12 ,  4C093EB13 ,  4C093EB17 ,  4C093EC04 ,  4C093EC16 ,  4C093FA34 ,  4C093FA52 ,  4C093FC17 ,  4C093FC18 ,  4C093FD03 ,  4C093FD12 ,  4C093FD13 ,  4C093FF13 ,  4C093FF34 ,  4C093FF36 ,  4C093FH02 ,  5C022AA08 ,  5C022AA15 ,  5C022AC41 ,  5C022AC69
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (2)

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