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J-GLOBAL ID:200903081566064893

断層撮影方法およびX線CT装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 井島 藤治 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1997064199
Publication number (International publication number):1998258047
Application date: Mar. 18, 1997
Publication date: Sep. 29, 1998
Summary:
【要約】【課題】 能率良く穿刺を行うための断層撮影方法およびX線CT装置を実現する。【解決手段】 穿刺中の被検体の断層像を撮影するX線CT装置であって、隣合う少なくとも2つのスライスについて被検体の断層像をそれぞれ撮影する撮影手段1,20と、2つの断層像における関心領域の平均画素値が互いに均衡するように、被検体に対する2つのスライスの位置を調節するスライス位置調節手段3,4,10とを具備する。
Claim (excerpt):
穿刺針で穿刺された被検体の断層像を撮影する断層撮影方法であって、隣合う少なくとも2つのスライスについて被検体の断層像をそれぞれ撮影し、それら断層像における関心領域の平均画素値が互いに均衡するように、被検体に対する前記隣合う少なくとも2つのスライスの位置を相対的に調節する、ことを特徴とする断層撮影方法。
IPC (3):
A61B 6/03 320 ,  A61B 6/03 331 ,  A61B 6/12
FI (3):
A61B 6/03 320 Y ,  A61B 6/03 331 ,  A61B 6/12

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