Pat
J-GLOBAL ID:200903081610636921

空間反射光の状態測定装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 菊谷 公男 (外3名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1992100476
Publication number (International publication number):1993273042
Application date: Mar. 26, 1992
Publication date: Oct. 22, 1993
Summary:
【要約】【目的】 異方性反射機能を有する物体材料の空間反射光の状態を効率的に精度良く測定することができるものとする。【構成】 椀型のケーシング22内壁に複数のフォトダイオードブロック30が設けられ、ケーシングはその開口側を試料当接面Sとされ、フォトダイオードブロックは試料当接面に中心点Pを有する半球面上に位置して、中心点に向けてある。ケーシング端縁のリング23から延びるカバー24の中央部には前記の中心点と同心の試料窓25が設けてある。ケーシングには中心点を通る試料当接面法線Hから所定の角度α位置に中心点Pに指向する光ファイバが接続された出光部40が設けられている。出光部から試料に照射された光の反射光が複数位置のフォトダイオードブロックで受光され、3次元空間方向の色データが得られる。
Claim (excerpt):
光源と、該光源の光を所定の波長に分光する分光器と、該分光器からの光を試料に照射する出光部および複数の空間位置に配置された受光部とを備える入射/受光ヘッドと、前記受光部からの受光信号を処理して試料からの複数の空間方向の色データを演算する演算器と、前記色データを出力する出力装置と有することを特徴とする空間反射光の状態測定装置。
IPC (2):
G01J 3/50 ,  G01N 21/27

Return to Previous Page