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J-GLOBAL ID:200903081648915913

測定機

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 伊丹 勝
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1991296649
Publication number (International publication number):1993107051
Application date: Oct. 17, 1991
Publication date: Apr. 27, 1993
Summary:
【要約】【目的】 測定機における所要測定時間を測定条件から計算して表示し、測定作業の効率を向上させる。【構成】 測定機における所要測定時間を与えられた測定条件から計算し、測定進行と共に減少する残り測定時間を表示装置に表示する。3次元モード測定機では、トラバース長さtrav、走査回数m、ステップ間隔step、測定速度S1、リターン速度S2、Y軸駆動速度SYを与えると、以下の式で残り測定時間tを順次算出して表示する。但し、m1は走査済み回数(m1=0〜m-1)、kは内部処理時間である。t=(trav/S1+trav/S2+k)×(m-m1)+(step/SY)×(m-m1-1)【効果】 測定に必要な時間を非熟練者でも容易に且つ正確に判別でき、測定完了までの時間を他の用途に有効に活用できる。
Claim (excerpt):
所要測定時間を与えられた測定条件から計算し、測定進行と共に減少する残り測定時間を表示装置に表示することを特徴とする測定機。
IPC (3):
G01B 21/30 102 ,  G04F 3/00 301 ,  G01D 7/00
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (2)
  • 特開昭59-061779
  • 特開昭63-038148

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