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J-GLOBAL ID:200903081662173520

X線断層撮影装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 三澤 正義
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1997310372
Publication number (International publication number):1998192272
Application date: Jun. 27, 1990
Publication date: Jul. 28, 1998
Summary:
【要約】【課題】 診断能向上と被曝線量低減を図ったX線断層撮影装置を提供する。【解決手段】 曝射されるX線により被検体に対して螺旋状のスキャンを行いこの被検体についての螺旋状データを収集する螺旋状データ収集手段41と、この螺旋状データ収集手段により収集されたデータを記憶する記憶手段と、前記被検体の所定の範囲の透視像を表示する表示手段7と、この表示手段における透視像に基づき所望のスキャン範囲を指定する指定手段と、この指定手段で設定された範囲に対応するデータを前記記憶手段から抽出し、これらの抽出データに基づいて所定間隔毎に複数の断層像を再構成する再構成手段と、再構成された各断層像を順次表示する表示手段とを有する。
Claim (excerpt):
曝射されるX線により被検体に対して螺旋状のスキャンを行いこの被検体についての螺旋状データを収集する螺旋状データ収集手段と、この螺旋状データ収集手段により収集されたデータを記憶する記憶手段と、前記被検体の所定の範囲の透視像を表示する表示手段と、この表示手段における透視像に基づき所望のスキャン範囲を指定する指定手段と、この指定手段で指定された範囲に対応する螺旋状データを前記記憶手段から抽出しこれらの抽出データに基づいて所定間隔毎に複数の断層像を再構成する再構成手段と、再構成された各断層像を順次表示する表示手段と、を有することを特徴とするX線断層撮影装置。
IPC (2):
A61B 6/03 371 ,  A61B 6/03 321
FI (2):
A61B 6/03 371 ,  A61B 6/03 321 N

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