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J-GLOBAL ID：200903081674417522

散乱吸収体計測方法及び散乱吸収体計測装置

Inventor： 土屋 裕 ,  太田 和義 ,  浦上 恒幸
Applicant, Patent owner： 浜松ホトニクス株式会社
Agent (1)： 長谷川 芳樹 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994083489
Publication number (International publication number)：1995209177
Application date： Apr. 21, 1994
Publication date： Aug. 11, 1995
Summary：

【要約】【目的】 散乱吸収体の内部情報計測の計測精度を向上するとともに、散乱吸収体の内部情報の絶対値計測および内部情報の時間変化や空間分布の高精度計測を行う。【構成】 散乱吸収体の表面に種々の入射角度成分をもつ所定の波長の光を入射させて、散乱吸収体表面の極近傍に等価的に点光源あるいは点光源の集まりを生成させ、散乱吸収体内部を拡散伝搬した光を散乱吸収体の外部で検出し、前記等価光源から発する等方性の光が直ちに拡散すると見做して光検出信号を演算して第1次情報である所定のパラメータを検出し、さらにこの所定のパラメータの値を演算処理して第2次情報である散乱吸収体の内部情報を高精度で計測する。

Claim (excerpt)：

種々の入射角度成分をもつ所定波長の光を散乱吸収体に入射し、前記散乱吸収体内部を拡散伝搬した前記所定波長の光を前記光入射位置と異なる位置で検出して光検出信号を取得し、前記光検出信号を演算して拡散伝搬経路における散乱特性及び吸収特性に関係する第1次情報である所定のパラメータを検出し、前記拡散伝搬経路における前記所定波長の光に対する散乱特性及び吸収特性と前記所定のパラメータとの関係に基づいて、前記所定のパラメータを演算処理して第2次情報である散乱吸収体の内部情報を算出する、ことを特徴とする散乱吸収体計測方法。

IPC (4)：

G01N 21/17 ,  A61B 5/14 310 ,  G01J 1/00 ,  G01N 33/72

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 光CT画像装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-063055   Applicant：株式会社日立製作所, 学校法人東海大学
• 特開平1-297049
  
• 特開平4-054437
  
• 特開平4-054439