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J-GLOBAL ID：200903081677850103
質量分析装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
西岡 義明
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999144293
Publication number (International publication number)：2000340167
Application date： May. 25, 1999
Publication date： Dec. 08, 2000
Summary：
【要約】【課題】イオンレンズを取り外すことなく洗浄できるようにした質量装置を提供する。【解決手段】イオンレンズ20aに収束用電源30の他に、加熱手段31、33、34を取り付け、イオンレンズが汚れたときに通電することによりイオンレンズを加熱するようにして不純物を除去する。
Claim (excerpt)：
検出しようとするイオンをイオンレンズにより検出器に導くようにした質量分析装置において、イオンレンズを構成する部材に加熱手段を設けたことを特徴とする質量分析装置。
F-Term (3)：
5C038FF07
, 5C038JJ02
, 5C038JJ04
