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J-GLOBAL ID：200903081679059284
孔曲り計測方法
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
越智 俊郎
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993182222
Publication number (International publication number)：1995012562
Application date： Jun. 29, 1993
Publication date： Jan. 17, 1995
Summary：
【要約】【目的】 鉛直又は鉛直に近い孔の曲り状態を精度良く連続的に、かつ短時間に計測する計測方法の提供を目的とする。【構成】 加速度計20とジャイロ22を搭載したプローブ18によって鉛直方向又は鉛直に近い方向の孔12の曲りを計測する方法であって、前記孔12の入口12Iと終端12Eにおける各傾斜θを前記加速度計20によって計測し、その間の傾斜に関して前記ジャイロ22によって連続的に計測し、この連続した計測値に基づく前記終端12Eの傾斜値と前記加速度計20によって計測された孔12の終端12Eの傾斜値との差を、前記連続計測時間内において一定なドリフトレートを有した前記ジャイロ22のドリフトであるとして前記連続した計測値を補正するよう構成する。
Claim (excerpt)：
加速度計とジャイロを搭載したプローブによって孔の曲りを計測する方法であって、前記孔の入口と終端における各傾斜を前記加速度計によって計測し、その間の傾斜に関して前記ジャイロによって連続的に計測し、この連続した計測値に基づく前記終端の傾斜値と前記加速度計によって計測された孔の終端の傾斜値との差を、前記連続計測時間内において一定なドリフトレートを有した前記ジャイロのドリフトであるとして前記連続した計測値を補正することを特徴とする孔曲り計測方法。
IPC (3)：
G01C 9/00
, G01B 21/20
, G01C 19/00
