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J-GLOBAL ID:200903081772059243

画像認識装置における照明装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 石井 暁夫 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1992144263
Publication number (International publication number):1993343447
Application date: Jun. 04, 1992
Publication date: Dec. 24, 1993
Summary:
【要約】【目的】被検出物Wの表面粗さに応じて撮像手段3に入射する光の量を、電子部品の画像認識作業において最適なものにして、画像認識作業の失敗を無くする。【構成】被検出物Wとそれを撮像する撮像手段3の入光部3aとを、入光部3aの光学系の入射光軸線10が被検出物Wの検出表面の法線と平行状になるように配置し、被検出物Wと撮像手段3との間の入射光軸線10上にハーフプリズム等の半透鏡体9を配置する。第1光源11からの照射光を半透鏡体9を介して被検出物Wの検出表面に入射光軸線10と略同軸上に照射する一方、第2光源12から被検出物Wへの照射光の軸線を入射光軸線10に対して適宜傾斜角度θを有するように、2つの光源を配置する。前記検出表面の表面粗さの相違により、制御装置13からの指令信号にて切換手段17を介して、表面粗さが滑らかなときには、第1光源11を点灯し、粗い場合には、第2光源を点灯する。
Claim (excerpt):
被検出物とそれを撮像する撮像手段の入光部とを、該入光部の光学系の光軸線が被検出物の検出表面の法線と平行状になるように配置し、被検出物に対して2系統で光照射する光源を備えてなる画像認識装置における照明装置において、前記被検出物と撮像手段との間の光軸線上にハーフプリズム等の半透鏡体を配置し、第1光源からの照射光を前記半透鏡体を介して前記被検出物の検出表面に前記光軸線と略同軸上に照射する一方、第2光源から被検出物への照射光の軸線を前記光軸線に対して適宜傾斜角度を有するように、前記2つの光源を配置し、前記検出表面の表面粗さの相違により、前記第1光源と第2光源との照射のON・OFFまたは光量の増減を切り換える制御手段を備えたことを特徴とする画像認識装置における照明装置。
IPC (6):
H01L 21/52 ,  G01B 11/24 ,  H01L 21/60 301 ,  H04N 5/225 ,  H04N 5/238 ,  H04N 7/18

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