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J-GLOBAL ID:200903081786231235
レーザー分光分析装置及び分析方法
Inventor:
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,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
木戸 一彦 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1999342597
Publication number (International publication number):2001159605
Application date: Dec. 01, 1999
Publication date: Jun. 12, 2001
Summary:
【要約】【課題】 レーザー分光法の利点を生かしながら、複数成分の濃度分析を容易にかつ確実に行うことができるレーザー分光分析装置及び分析方法を提供する。【解決手段】 レーザー分光分析装置におけるレーザー光の発振源として、波長帯域が異なる複数の単一波長発振用半導体レーザー光源を設けるとともに、各半導体レーザー光源から照射するレーザー光の波長を所定範囲でスキャンさせる制御器を設ける。
Claim (excerpt):
ガス中の成分濃度をレーザー光の吸収スペクトルにより分析するレーザー分光分析装置において、前記レーザー光の発振源として、波長帯域が異なる複数の単一波長発振用半導体レーザー光源を設けるとともに、各半導体レーザー光源から照射するレーザー光の波長を所定範囲でスキャンさせる制御器を設けたことを特徴とするレーザー分光分析装置。
IPC (3):
G01N 21/39
, G01N 21/01
, G01N 21/35
FI (3):
G01N 21/39
, G01N 21/01 D
, G01N 21/35 Z
F-Term (14):
2G059AA01
, 2G059BB01
, 2G059CC09
, 2G059DD12
, 2G059EE01
, 2G059EE09
, 2G059EE11
, 2G059EE12
, 2G059GG01
, 2G059GG02
, 2G059JJ11
, 2G059LL01
, 2G059MM09
, 2G059MM10
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